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SCHOKKTY DIODE
SCHOKKTY DIODE
型号︰SMB
品牌︰SINLOON
原产地︰台湾
单价︰-
最少订量︰-

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产品描述

我们可将累增倍增的分析近似成如下:假设一个载子(可为n型或冲撞游离产生的电子,电洞对:(a)反向偏压p-n接面的能带图

显示(主要的)在空乏区场的电子增加的动能,并且由冲撞游离产生(

要的)电子电洞对。在此过程中主要的电子损失动能;(b)接面空乏区中

一个入射电子碰撞产生的单一游离;(c)主要、次要和第三个碰撞。

p)与晶格撞游离的机率P,在过渡区W距离内被加速,因此nin

们电子进入p边,碰撞游离的机率Pnin,而每次碰撞都产生一个电子电

洞对(二次载子)。在主要电子碰撞Pnin后, 生nin (l+P)个电子。

在一次碰撞后,每个电子电洞对在过渡区内走 W的距离。例如,若一电

子电洞对是在区域中心产生,电子会漂移 W/2距离到n而电洞会漂移

W/2p。因此由于二次载子运动所造成碰撞游离的机率仍是PninP

个二次电子电洞对碰撞游离的次数为(ninP)P而产生ninP2三次电子电洞

对。在多次碰撞后,假设无再结合发生,n区外产生的总电子数为

产品规格介绍︰累增崩溃
对低掺杂接面电子穿隧是可忽略的,取而代之的崩溃机制乃是携带能量的大原子的冲撞游离(impact ionization)。若被散射的载子具有足够的能量,一般的晶格散射将导致电子电洞对(EHP)的产生。例如,若在过渡区的电场够从p边通过一个电子将被加速高至足够的电能而导致离子和晶格碰撞。这样单一的作用导致载子加倍(carrier mul-tiplication);原始的电子和产生的电子皆扫到接面n边,而产生的电洞扫到P边 。若在过渡区中产生的载子也有和晶格游离碰撞,则倍增的程度变得非常高。例如,一入射的电子可能和晶格碰撞且产生一电子电洞对;这些载子有机会产生一新的电子电洞对,而新产生的载子也可能再产生新的电子电洞。如此持续下去,这样的过程称为累增(avalanche)过程,因为每一个入射的载子可以产生大量新的载子。

技术支援︰Mayloon Electronic Co., Ltd.,
美隆电子有限公司
Tel: 852-2408 9788 Fax: 852-2406 9983

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